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石英晶体膜厚仪—广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

国产膜厚测量仪把控产品细节

用户在进行测量仪的测量过程中，需要保持压力的恒定，不然很容易影响到测星的读数，会给大家带来不利的影响，金华石英晶体膜厚仪，让大家不能记录到正确化的读数结果。

测量仪在使用时要让仪器测头和被测试件有直接性接触，如果两种之间有杂质存在的话，石英晶体膜厚仪价位，需要---行清理方可再展开测星工作。

大家在使用国产膜厚测量仪进行测试的时候，不要在内转角处和靠近试件边缘处进行测量，这样会造成测量结果的误差，会给我们带来不便性的。让测量出来的数据是没有任何参考价值意义的。

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测厚仪的检测方法及测量注意事项

测厚仪按照测量方式可分为接触式和非接触式。接触式测厚仪通过仪器与样品表面接触测量，从而得知测量结果。而有些样品的表面容易破坏不宜测量，则衍生出各种非接触式测量方法，测厚仪的检测方法及测量注意事项。

涂层测厚仪

采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以*地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂层厚度。

测厚仪测量注意事项如下：

1、时间停止试验应注意金属磁性和名义粗糙度应与试件组的规模。

2、头部的侧面和垂直于名称样品的测量。

3、测量中应注意基体金属的临界厚度，如果厚度的测量不受基体金属厚度的影响。

4、测量应注意试样的曲率对测量的影响。因此，在测量的测量弯曲的名称可以不依赖。

5、小心不测内眼角靠近试样的边缘检测，因为试样形状改变个人的厚度是名非常敏感。

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